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英国Malvern马尔文TriStar II Plus 高精度材料孔隙分析仪技术参数

更新时间:2026-06-03      浏览次数:12

Micromeritics TriStar II Plus比表面积与孔径分析仪

快速、精确的比表面及孔径分析仪

  • 快速分析和真正的并行操作提高了实验室的通量

  • 可靠准确,为决策和报告提供最高置信度

  • 赢得全球信赖:每 3 秒就有一台 TriStar 在进行比表面分析

概览

Micromeritics TriStar II Plus是全自动比表面积及孔隙度分析仪,旨在实现快速、高通量且高精度的分析。

带有三个分析站,能够有效提高常规质量控制分析的速度和效率;同时还拥有高精度、高分辨率和数据简化能力,以满足大多数研究需求。

TriStar II Plus可兼容多种分析方法和数据简化,用户可优化分析特定的应用。

特点

  • 实现无干扰操作,确保可重复的腔室体积。

  • 独特的歧管设计,可用于高精度的气体控制。

  • 三个分析站可同时运行,但又相互独立。三个BET比表面积的测量可在20分钟内完成;四台Tristar可由一台计算机控制以应付更多样品测试。

  • 标配的 Po 端口可连续进行饱和蒸气压的测量。饱和蒸气压可手动输入、连续测量或在样品中收集。 TriStarII Plus 可方便的控制和微调分析速度和精度。

  • 等温夹套确保样品及 Po 管温度长效恒定。

  • 长效杜瓦瓶设计, 提供高达40h 的连续温度控制。



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